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岱美再一下城, 把FEI雙束 (SEM/FIB) 顯微鏡帶進(jìn)化工原料測量設(shè)備的領(lǐng)域

發(fā)布時間：2010-08-06

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       國際杰出的化工原料生產(chǎn)商選定岱美為供貨商, 為其下電子材料技術(shù)中心提供 FEI Dual Beam System (SEM/FIB)。

       FEI把最新的FIB和電子光學(xué)技術(shù)融為一體, 并結(jié)合獨(dú)特的環(huán)境掃描電鏡(ESEM)技術(shù), 為用戶帶來更大的應(yīng)用靈活性和通用性。

       設(shè)備主要特點(diǎn):
- FIB最大束流達(dá)到65nA,FIB加工速度大幅度提高 
- 電子光學(xué)技術(shù)最大束流200nA, 分辨率1.2nm, 同時滿足高分辨和能譜/EBSD/波譜分析功能 
- 環(huán)境掃描(ESEM)技術(shù),可觀察所有樣品; 支持所有環(huán)境掃描電鏡附件(如加熱臺) 
- 大樣品室可安裝各種附件和微操控系統(tǒng) 
- 最新軟件技術(shù), 如AutoTEM G2, 三維重構(gòu)軟件等 
- 基于Windows XP的系統(tǒng)控制軟件, 最佳的用戶接口

（系統(tǒng)預(yù)計(jì)于2010年10月交貨及安裝）

轉(zhuǎn)載請注明來源：m.dzdswkj.com

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