Semicon China 2012半導(dǎo)體展覽會(huì)圓滿落幕

發(fā)布時(shí)間：2012-03-27

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Semicon China 2012半導(dǎo)體展覽會(huì)于3月22日下午在上海新國際博覽中心圓滿落下帷幕。承蒙各廠商鼎力支持及親自蒞臨，岱美中國協(xié)同廠商在今年的展會(huì)上展出了Filmetrics,Schmitt, MicroSense等樣機(jī)作實(shí)時(shí)演示，陣容之鼎盛把展臺(tái)擠得水泄不通，讓廣大參展觀眾高興而來，滿意而歸。在此感謝各行業(yè)觀眾蒞臨參觀交流，得知各方意見讓我們獲益良多。我們將會(huì)一如既往將明年舉辦得更加好，屆時(shí)請(qǐng)?jiān)俟馀R參觀，希望大家能夠多互動(dòng)交流，以達(dá)到一同發(fā)展及成長的目標(biāo)。

這些重要的成果表明岱美中國正在大步地向規(guī)?；?guī)范化的方向前進(jìn)，在此也祝愿及期待岱美中國有繁榮發(fā)展的新景觀。

Semicon China

今年為吸引觀眾眼球，還配備了投影儀及背投幕布。

       Schmitt，光學(xué)表面粗糙度測量儀
       致力于晶圓和光盤生產(chǎn)工業(yè)及表面光散射測量技術(shù)，其產(chǎn)品主要應(yīng)用于平面粗糙度測試，比如硅片，硬盤及鏡面等等。施密特光學(xué)表面粗糙度測量系統(tǒng)向客戶提供快速，非接觸式測試，測量精度小于0.5?，有著其他競爭對(duì)手所無法比擬的精度水平。
       在SEMICON展示了TMS-2000W-RC全自動(dòng)型號(hào)和uScan手動(dòng)單點(diǎn)測試型號(hào)。

Filmetrics，膜厚測量儀是同時(shí)具備測量快，操作簡單及最具性價(jià)比的薄膜厚度測量設(shè)備。當(dāng)中F20系列是Filmetrics公司的標(biāo)配專用儀器，以其低廉的價(jià)格，優(yōu)越的性能贏得客戶的好評(píng)。
在SEMICON展示了F20標(biāo)配膜厚測量儀，和F50全自動(dòng)整片樣品厚度測量儀。

MicroSense（前身是ADETechnologies，KLA_TENCOR的子公司），非接觸式電容式位移傳感器基于電容式感技術(shù)磚利，MicroSense提供高準(zhǔn)確度，高帶寬測量精度電容式位移傳感器設(shè)備，MicroSense優(yōu)化傳感器的操作性能以達(dá)到高穩(wěn)定性和線性方案、高分辨率、高帶寬測量方案，用于測量硬盤驅(qū)動(dòng)馬達(dá)、氣動(dòng)軸承轉(zhuǎn)子、X-Y樣品臺(tái)**度、光盤、汽車零部件和機(jī)床等測量。
在SEMICON展示了MicroSense Probe: Sensor Detecting Wafer Unit。

EVG，晶圓封裝工藝設(shè)備，EVG是領(lǐng)先的晶圓級(jí)封裝、3D互聯(lián)、絕緣硅、微機(jī)械電子系統(tǒng)以及納米加工等半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)備供貨商。主要產(chǎn)品包括芯片鍵合、納米壓印、平版印刷、測量儀器、雙面光刻、涂膠、清洗、以及檢查系統(tǒng)。其行業(yè)的優(yōu)越水平在光刻系統(tǒng)、鍵合系統(tǒng)以及納米壓印系統(tǒng)領(lǐng)域獨(dú)樹一幟，設(shè)立全球行業(yè)的運(yùn)行標(biāo)準(zhǔn)，銷售業(yè)績一直居于業(yè)內(nèi)榜首。擁有全球廣泛的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)和應(yīng)用客戶架構(gòu)以促進(jìn)和加強(qiáng)和客戶的緊密合作。其中國的市場運(yùn)營和開拓及技術(shù)服務(wù)更是和岱美擁有緊密的合作關(guān)系。