Thetametrisis膜厚儀的特點及工作原理

Thetametrisis膜厚儀FR-prtable是一款*的USB便攜式測量儀器，可對透明和半透明的單層或多層堆疊薄膜進行無損（非接觸式）表征。

Thetametrisis膜厚儀產(chǎn)品特點：

1、一鍵分析(無需初始化操作)動態(tài)測量。

2、測量光學參數(shù)(n&k,顏色)自動保存演示視頻。

3、可測量600多種不同材料用于離線分析的多個設置軟件更新服務。

Thetametrisis工作原理：

1、白光反射光譜（WLRS）測量方法是在一定波長范圍內(nèi)，分析垂直于樣品表面的入射光和從單層或多層堆疊薄膜反射的反射光譜的分析方法。

2、由界面&表面產(chǎn)生的反射光譜被用于確定自行和附著于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆疊膜層的厚度、光學常數(shù)（n&k）等。